- Описание
- Файлы и документы 1
- Отзывы 0
Артикул:
Тип товара
Тестовые щупы внутрисхемного тестирования ICT
Производитель
Наименование
1008/E.50-V-1.5N-Au-0.5
Прогноз поставки
4-6 недель
Файлы и документы
Описание
Тип: Тестовый пружинный контакт с длиннм ходом для внутрисхемного тестирования In-circuit testing (ICT)
Центры: 50mil / 1.27mm
Интерфейсный контакт
Контактирование точек контроля тестирования смонтированных печатных плат
Длина хода пружины 10mm Отзывы
Хотите оставить отзыв?Поставьте свою оценку!
Сделайте выбор!
Нужна консультация? Задайте вопрос прямо сейчас!
